| 由于測(cè)量介質(zhì)損耗因數(shù)對(duì)反映上述缺陷具有較高的靈敏度，所以在電工制造及電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都得到了廣泛的應(yīng)用。變壓器、發(fā)電機(jī)、斷路器等電氣設(shè)備的介損測(cè)試《規(guī)程》都作了規(guī)定。介損測(cè)試儀的技術(shù)發(fā)展很快，以前在電力系統(tǒng)廣泛使用的QS1西林電橋正被智能型的介損測(cè)試儀取代，新一代的介損測(cè)試儀均內(nèi)置升壓設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn) 電容，并且具有操作簡(jiǎn)單、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、試驗(yàn)結(jié)果讀取方便等特征。 隨著計(jì)算機(jī)與微電子技術(shù)的發(fā)展，逐漸發(fā)展出基于相位差測(cè)量、離散傅立葉分析以及容性電流補(bǔ)償為基礎(chǔ)的數(shù)字式介損測(cè)量技術(shù),利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，數(shù)字式介損測(cè)量設(shè)備原理上不再依賴電容標(biāo)準(zhǔn)器，通過雙頻(工頻/異頻)測(cè)量原理,抗力強(qiáng)，因此廣泛應(yīng)用于離線式和在線式測(cè)量場(chǎng)合。 1、按鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng)，并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見圖十一所示。 2、在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目，按▼▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更，并循環(huán)指示，流程見圖十二所示。 3、將菜單變更至與測(cè)試要求相對(duì)應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。  |
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